如何通過(guò)掃描電鏡獲得樣品的局部化學(xué)成分信息？
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM），可以通過(guò)能譜分析（EDS）獲得樣品的局部化學(xué)成分信息。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-27
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM），可以通過(guò)能譜分析（EDS）獲得樣品的局部化學(xué)成分信息。
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透射樣品桿，也稱(chēng)為透射樣品支架或網(wǎng)格支架，是透射電子顯微鏡中的一個(gè)關(guān)鍵組件。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-27
減少透射樣品桿本身對(duì)透射電子成像的干擾是在透射電子顯微鏡（TEM）成像中十分重要的，因?yàn)槿魏胃蓴_都可能影響到成像質(zhì)量和分析結(jié)果。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-27
在實(shí)驗(yàn)室中，樣品桿（也稱(chēng)為樣品臺(tái)、樣品支架或樣品架）具有廣泛的應(yīng)用，特別是在各種科學(xué)研究和實(shí)驗(yàn)中。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-25
光學(xué)顯微鏡中，樣品桿是指顯微鏡的樣品臺(tái)或樣品支架，通常位于顯微鏡的下部。
MORE INFO → 常見(jiàn)問(wèn)題 2023-07-25
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）可以實(shí)現(xiàn)三維表面重建和虛擬切片，這需要使用多張二維圖像和圖像處理軟件。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-25
通過(guò)掃描電子顯微鏡（SEM）進(jìn)行材料表面形貌的定量分析是一種常見(jiàn)且有效的方法。
MORE INFO → 行業(yè)動(dòng)態(tài) 2023-07-25
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題。當(dāng)樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來(lái)自電子束的照射時(shí)，可能會(huì)發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導(dǎo)致樣品表面帶電。這會(huì)導(dǎo)致圖像失真、信號(hào)衰減以及可能損害樣品。
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