掃描電鏡的電子束是如何聚焦和掃描樣品的？

掃描電鏡（SEM）的電子束聚焦與掃描是成像的核心機制，整個過程涉及電子槍、電磁透鏡系統(tǒng)和掃描線圈等部件，目的是將電子束精準地聚焦成細小的束斑，并以系統(tǒng)控制的方式逐點掃描樣品表面。

掃描電鏡成像過程中如何調(diào)整焦距？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，調(diào)整焦距（Focus）是獲得清晰圖像的關(guān)鍵步驟。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否失真，可以從以下幾個關(guān)鍵方面入手進行識別和判斷：

掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋（stripes, banding）或顆粒感（grainy texture, noise），可能源于以下幾類問題，分別涉及設(shè)備、樣品、成像參數(shù)和環(huán)境因素。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像質(zhì)量對使用環(huán)境高度敏感。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，保存和導(dǎo)出圖像是實驗數(shù)據(jù)管理的重要步驟。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否聚焦良好，主要依靠觀察圖像的細節(jié)清晰度和邊緣銳利度。

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中，亮度和對比度并不只是視覺效果上的調(diào)節(jié)項，它們實際代表了樣品物理特性的某些方面，主要取決于成像模式（如二次電子、背散射電子等）。