如何處理樣品以避免在掃描電鏡下發(fā)生充電偽影？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導(dǎo)電樣品容易產(chǎn)生充電效應(yīng)，導(dǎo)致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。

如何優(yōu)化掃描電鏡的曝光時間以提高成像質(zhì)量？

優(yōu)化掃描電鏡（SEM）的曝光時間需要在信噪比（SNR）、分辨率、樣品損傷和成像時間之間取得平衡。

掃描電鏡（SEM）光束偏移會導(dǎo)致成像不清晰、分辨率下降、甚至樣品漂移。

掃描電鏡在對磁性材料（如鐵、鈷、鎳及其合金）成像時，可能會受到磁場干擾，導(dǎo)致成像質(zhì)量下降。

掃描電鏡（SEM）樣品是否可以重復(fù)使用，取決于以下幾個因素：

在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能會受到污染，導(dǎo)致圖像質(zhì)量下降或影響分析結(jié)果。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像過程主要依賴于聚焦電子束掃描樣品表面，并通過探測產(chǎn)生的電子信號來構(gòu)建圖像。

掃描電子顯微鏡（SEM）可以用于表面粗糙度分析，但其適用性取決于具體的測量需求和樣品特性。