如何預防掃描電鏡中的樣品表面電荷積累？

在掃描電鏡（SEM）中，樣品表面電荷積累是一個常見的問題，它可能導致圖像質量下降，特別是在非導電或絕緣性材料上。

掃描電鏡圖像如何獲取和保存

獲取和保存掃描電鏡（SEM）圖像通常涉及以下步驟：

掃描電子顯微鏡（SEM）圖像通常是灰度圖像，其中不同的灰度級別代表不同的亮度。

掃描電鏡（SEM）本身不能進行化學成分分析，但可以與能量色散X射線光譜儀（EDS）或能量色散X射線分析儀（EDX）結合使用來進行化學成分分析。

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掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析和能譜分析是兩種密切相關但有著不同焦點的技術。

掃描電子顯微鏡（SEM）元素分析是一種用于確定樣品表面元素組成的強大工具。

掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的顯微鏡，它使用電子束而不是光來照射樣品，從而實現(xiàn)更高的分辨率。