樣品桿在掃描電鏡（SEM）中是用于操縱樣品位置和角度的裝置，使得樣品可以被電子束掃描并獲取高分辨率的圖像。樣品桿的工作原理基于準確的位置控制和角度調(diào)整，以及對樣品與電子束之間相互作用的影響。

以下是樣品桿在掃描電鏡中的工作原理：

位置控制： 樣品桿通過電動機、驅(qū)動裝置或手動控制元件（如旋鈕）來實現(xiàn)位置的調(diào)整。電動樣品桿通過準確的位置編碼器和控制電路，可以將樣品移動到準確的位置，使得電子束可以在所需區(qū)域進行掃描。

角度調(diào)整： 樣品桿還可以通過機械結(jié)構(gòu)或電動方式調(diào)整樣品的角度。這對于觀察不同角度下的樣品特性或進行特定角度的分析非常有用。

電子束和樣品的相互作用： 樣品桿的調(diào)整使得樣品可以與電子束相互作用。電子束通過樣品的不同區(qū)域，與樣品的表面原子相互作用，產(chǎn)生次級電子（SE）和反向散射電子（BSE）等信號。這些信號被探測器捕獲并用于生成圖像和分析。

自動化和預(yù)設(shè)位置： 一些掃描電鏡系統(tǒng)允許用戶預(yù)設(shè)多個位置和角度，實現(xiàn)自動掃描、成像和分析。樣品桿可以在不同位置之間自動切換，從而實現(xiàn)多個位置的高分辨率成像。

導(dǎo)電涂層： 為了減少樣品表面的電荷積累，一些樣品桿可能需要導(dǎo)電涂層或?qū)щ妸A具，以便提供電子束的導(dǎo)電通路。

透射電鏡多孔樣品桿

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