掃描電鏡主要通過高能電子束掃描樣品，其原理為通過光束與物質(zhì)間的產(chǎn)生的相互作用，激發(fā)物理信息，通過收集、放大、成像，以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。接下來澤攸科技小編主要為大家分享掃描電鏡使用優(yōu)點(diǎn)有哪些！

1、儀器分辨率較高，通過二次電子像能夠觀察試樣表面6nm左右的細(xì)節(jié)，采用LaB6電子槍，可以進(jìn)一步提高到3nm。 

2、儀器放大倍數(shù)變化范圍大，且能連續(xù)可調(diào)。因此可以根據(jù)需要選擇大小不同的視場(chǎng)進(jìn)行觀察，同時(shí)在高放大倍數(shù)下也可獲得一般透射電鏡較難達(dá)到的高亮度的清晰圖像。

3、觀察樣品的景深大，視場(chǎng)大，圖像富有立體感，可直接觀察起伏較大的粗糙表面和試樣凹凸不平的金屬斷口象等，使人具有親臨微觀世界現(xiàn)場(chǎng)之感。

4、樣品制備簡(jiǎn)單，只要將塊狀或粉末狀的樣品稍加處理或不處理，就可直接放到掃描電鏡中進(jìn)行觀察，因而更接近于物質(zhì)的自然狀態(tài)。

5、可以通過電子學(xué)方法有效地控制和改善圖像質(zhì)量，如亮度及反差自動(dòng)保持，試樣傾斜角度校正，圖象旋轉(zhuǎn)，或通過Y調(diào)制改善圖象反差的寬容度，以及圖象各部分亮暗適中。采用雙放大倍數(shù)裝置或圖象選擇器，可在熒光屏上同時(shí)觀察放大倍數(shù)不同的圖象。

6、可進(jìn)行綜合分析。

ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編介紹的掃描電鏡的使用優(yōu)點(diǎn)，更多關(guān)于掃描電鏡的問題請(qǐng)咨詢