掃描電鏡主要有以下幾種模式：

掃描電子顯微鏡（SEM）模式：主要用于表面形貌、微觀形貌、成分分析等方面的檢測(cè)和分析。

透射電子顯微鏡（TEM）模式：主要用于觀察材料的晶格結(jié)構(gòu)、原子排列、微觀組織等方面的分析。

原子力顯微鏡（AFM）模式：主要用于表面形貌、微觀形貌、納米材料等方面的檢測(cè)和分析。

熒光光譜顯微鏡模式：主要用于材料的表面性質(zhì)、光學(xué)特性等方面的分析。

臺(tái)式掃描電鏡

此外，還提供一系列配套的分析服務(wù)，如元素分析、粒徑分布、形貌分析、結(jié)晶形態(tài)分析等，以滿足不同領(lǐng)域的客戶需求。

以上就是安徽澤攸科技有限公司小編介紹的掃描電鏡模式。更多掃描電鏡價(jià)格及信息請(qǐng)咨詢