在臺式掃描電鏡（SEM）中，探針電流是指掃描電鏡電子束與樣品表面相互作用產(chǎn)生的電流量。探針電流是SEM中一項重要的參數(shù)，可以提供關于樣品性質(zhì)和電子束與樣品交互作用的信息。

探針電流的大小可以受到以下因素的影響：

電子束電流：電子束電流是SEM中調(diào)節(jié)的一個重要參數(shù)。增加電子束電流會導致探針電流變大。

加速電壓：加速電壓是指電子束在SEM中的能量。較高的加速電壓通常會導致更大的探針電流。

樣品性質(zhì)：樣品的導電性和形貌會影響探針電流。導電性較高的樣品會產(chǎn)生較大的探針電流，而非導電性樣品的探針電流較小。樣品表面的形貌和紋理也會對探針電流產(chǎn)生影響。

探針與樣品之間的距離：探針電流還與電子束與樣品之間的距離有關。在SEM中，通過調(diào)整工作距離（Working Distance）來控制探針與樣品的距離。

通常情況下，較高的探針電流可以提供更高的信號強度和更好的圖像質(zhì)量，但同時也可能導致樣品的熱損傷或退火效應。因此，在選擇探針電流時需要平衡信號質(zhì)量和樣品的熱影響。

具體的探針電流設置應根據(jù)樣品的性質(zhì)、SEM儀器的要求和實際需求進行優(yōu)化。一般來說，您可以根據(jù)樣品的導電性和SEM儀器的建議范圍，逐漸增加探針電流，觀察圖像質(zhì)量和樣品狀況，并找到適合您實驗需求的探針電流值。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的影響臺式掃描電鏡探針電流的大小的因素。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢