在掃描電鏡（SEM）中，偏轉(zhuǎn)角度（deflection angle）是指掃描電子束在樣品表面上的運(yùn)動(dòng)方向，通過電場的作用控制電子束的偏轉(zhuǎn)角度。調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度對(duì)于提高圖像的清晰度和對(duì)比度起著重要作用，尤其是在不同的成像模式下。以下是通過調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度提高圖像質(zhì)量的幾種方法：

1. 偏轉(zhuǎn)角度對(duì)圖像清晰度的影響

圖像的清晰度通常是由掃描過程中的多個(gè)因素共同決定的，偏轉(zhuǎn)角度的調(diào)整有助于優(yōu)化這些因素，特別是在成像過程中電子束的聚焦與掃描精度上。

1.1. 調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度以優(yōu)化聚焦

掃描電子束與樣品的接觸角度：通過適當(dāng)調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度，可以確保電子束的聚焦點(diǎn)更加準(zhǔn)確地落在樣品表面，減少由于偏離焦點(diǎn)而引起的模糊現(xiàn)象。適當(dāng)?shù)钠D(zhuǎn)角度能夠幫助聚焦在樣品的表面或其特定區(qū)域，獲得更清晰的圖像。

避免像差：通過微調(diào)偏轉(zhuǎn)角度，可以減少掃描過程中可能出現(xiàn)的像差，如球面像差和色差，從而提高成像的清晰度。掃描系統(tǒng)中的電子束偏轉(zhuǎn)角度和聚焦鏡的優(yōu)化配合，有助于實(shí)現(xiàn)更加準(zhǔn)確的電子束對(duì)準(zhǔn)。

1.2. 控制掃描速度與分辨率

偏轉(zhuǎn)角度會(huì)影響掃描的速度。在較高的偏轉(zhuǎn)角度下，電子束會(huì)在樣品表面上走得更遠(yuǎn)，掃描速度可能會(huì)變快，這時(shí)需要通過調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度來控制電子束的運(yùn)動(dòng)軌跡，從而優(yōu)化圖像的分辨率和清晰度。

較低的偏轉(zhuǎn)角度：能使電子束在樣品表面上以較低速度掃描，通常用于高分辨率成像。這有助于提高圖像的細(xì)節(jié)和清晰度，但會(huì)犧牲一些掃描速度。

較高的偏轉(zhuǎn)角度：能加快掃描速度，適用于對(duì)樣品大范圍的快速掃描，通常用于低分辨率圖像的采集。

2. 偏轉(zhuǎn)角度對(duì)圖像對(duì)比度的影響

圖像的對(duì)比度決定了圖像中不同區(qū)域之間的亮度差異。通過調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度，可以改善圖像的對(duì)比度，特別是在不同的電子束入射角下，反射信號(hào)和二次電子信號(hào)的相對(duì)強(qiáng)度會(huì)發(fā)生變化，從而影響圖像的對(duì)比度。

2.1. 二次電子與背散射電子的貢獻(xiàn)

掃描電鏡中的圖像信號(hào)主要由兩部分組成：

二次電子（SE）信號(hào)：主要用于獲取表面細(xì)節(jié)和高分辨率成像。二次電子的發(fā)射方向和數(shù)量與入射電子束的角度、表面形態(tài)以及偏轉(zhuǎn)角度密切相關(guān)。

背散射電子（BSE）信號(hào)：通常用于獲取樣品的元素信息和粗略的表面形貌。背散射電子的數(shù)量與樣品的原子序數(shù)（Z）密切相關(guān)，且受電子束偏轉(zhuǎn)角度的影響。

調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度可以優(yōu)化二次電子和背散射電子的貢獻(xiàn)，從而改變圖像的對(duì)比度。

優(yōu)化二次電子的對(duì)比度：通過調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度使得電子束以適當(dāng)?shù)慕嵌热肷涞綐悠繁砻?，可以增?qiáng)二次電子信號(hào)的采集，突出表面結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，提升圖像的分辨率和對(duì)比度。

增強(qiáng)背散射電子信號(hào)：對(duì)于需要獲取元素對(duì)比度（例如Z-對(duì)比）的圖像，可以通過增加偏轉(zhuǎn)角度，改善背散射電子的信號(hào)強(qiáng)度，從而提高圖像的元素對(duì)比度。

2.2. 偏轉(zhuǎn)角度與樣品表面形態(tài)的相互作用

不同的樣品表面形態(tài)（如粗糙表面、孔洞、尖銳邊緣等）會(huì)對(duì)電子束的散射產(chǎn)生不同的影響，從而影響成像的對(duì)比度。通過調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度，可以改變電子束與樣品表面之間的入射角，進(jìn)而影響散射角度和二次電子的發(fā)射量，從而優(yōu)化圖像對(duì)比度。

表面粗糙的樣品：當(dāng)樣品表面較為粗糙時(shí)，調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度可以改善對(duì)表面形態(tài)的探測，使得樣品表面結(jié)構(gòu)的差異更加明顯，從而提高對(duì)比度。

2.3. 動(dòng)態(tài)調(diào)整與實(shí)時(shí)反饋

在一些高分辨率或?qū)Ρ榷纫筝^高的成像中，常常需要實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)偏轉(zhuǎn)角度。在動(dòng)態(tài)掃描過程中，電子束的偏轉(zhuǎn)角度與掃描速率的實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)，有助于優(yōu)化圖像的清晰度和對(duì)比度。通常，這種調(diào)整通過顯微鏡的控制軟件自動(dòng)完成，根據(jù)圖像質(zhì)量反饋進(jìn)行微調(diào)。

3. 偏轉(zhuǎn)角度調(diào)整的注意事項(xiàng)

畸變問題：過度調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度可能導(dǎo)致圖像畸變，尤其是在掃描區(qū)域較大時(shí)，過高的偏轉(zhuǎn)角度可能使圖像的幾何形態(tài)出現(xiàn)偏差。因此，在提高圖像清晰度和對(duì)比度的同時(shí)，要注意避免過度偏轉(zhuǎn)，確保掃描路徑的準(zhǔn)確性和圖像的真實(shí)性。

成像模式的選擇：不同的成像模式（如二次電子成像、背散射電子成像等）對(duì)偏轉(zhuǎn)角度的敏感程度不同。在選擇合適的成像模式時(shí)，應(yīng)根據(jù)樣品的特性和所需的圖像類型，合理調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度。

設(shè)備限制：偏轉(zhuǎn)角度的調(diào)整范圍通常由掃描電鏡的硬件和電子束掃描系統(tǒng)決定，不同的SEM型號(hào)可能具有不同的偏轉(zhuǎn)角度范圍和掃描精度。在調(diào)整時(shí)應(yīng)考慮設(shè)備的具體規(guī)格，避免超出設(shè)備的性能范圍。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡如何調(diào)整偏轉(zhuǎn)角度以提高圖像的清晰度與對(duì)比度。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢