掃描電鏡（SEM）的電子束可能對樣品造成損傷，具體影響如下：

熱損傷

電子束的能量會使樣品局部升溫，可能導(dǎo)致熱敏感材料熔化或分解。

電荷積累

非導(dǎo)電樣品可能積累電荷，產(chǎn)生靜電效應(yīng)，影響成像質(zhì)量，甚至損壞樣品。

輻射損傷

高能電子束可能破壞化學(xué)鍵，導(dǎo)致聚合物等材料的結(jié)構(gòu)變化或分解。

質(zhì)量損失

電子束轟擊可能使樣品表面原子或分子脫離，造成質(zhì)量損失，尤其是對有機或生物樣品。

結(jié)構(gòu)變化

電子束可能導(dǎo)致晶體結(jié)構(gòu)改變或相變，影響材料性質(zhì)。

減輕措施

降低加速電壓：減少電子束能量。

減小束流：降低束流密度。

使用冷卻裝置：減少熱損傷。

樣品涂層：對非導(dǎo)電樣品進行導(dǎo)電涂層處理。

電子束可能對樣品造成熱損傷、電荷積累、輻射損傷、質(zhì)量損失和結(jié)構(gòu)變化，但可通過調(diào)整參數(shù)和采取防護措施減輕這些影響。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡的電子束對樣品是否有損傷的介紹。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價格請咨詢