掃描電鏡的工作模式包括哪些？

掃描電子顯微鏡（SEM）具有多種工作模式，可根據(jù)不同的需求和應(yīng)用選擇適當(dāng)?shù)哪Ｊ健?/p>

掃描電鏡的樣品大小和形態(tài)限制是什么？

掃描電子顯微鏡（SEM）在樣品大小和形態(tài)上有一些限制，這些限制主要受到儀器的設(shè)計(jì)和操作參數(shù)的影響。

選擇合適的探測(cè)器應(yīng)根據(jù)實(shí)際應(yīng)用和需求進(jìn)行評(píng)估。以下是一些考慮因素：

掃描電子顯微鏡（SEM）使用不同類型的探測(cè)器來測(cè)量和探測(cè)樣品表面產(chǎn)生的信號(hào)。

在掃描電鏡（SEM）中，探針電子束的直徑和聚焦方式是由幾個(gè)參數(shù)和控制方式?jīng)Q定的。

在掃描電鏡（SEM）中，探針電子束與樣品之間的工作距離是非常關(guān)鍵的，它會(huì)直接影響到成像的清晰度和信號(hào)強(qiáng)度。

校準(zhǔn)和驗(yàn)證掃描電鏡（SEM）的參數(shù)準(zhǔn)確性是確保SEM獲得準(zhǔn)確、可靠數(shù)據(jù)的重要步驟。

掃描電鏡的掃描速度和采集時(shí)間可以通過以下方式進(jìn)行調(diào)節(jié)：