如何在掃描電鏡中進行高真空和低真空模式切換
在掃描電子顯微鏡(SEM)中,高真空(High Vacuum, HV)和低真空(Low Vacuum, LV)模式的切換是為了適應(yīng)不同樣品的成像需求。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-09-02
在掃描電子顯微鏡(SEM)中,高真空(High Vacuum, HV)和低真空(Low Vacuum, LV)模式的切換是為了適應(yīng)不同樣品的成像需求。
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在掃描電子顯微鏡(SEM)中,焦點合成(Focus Stacking)是一種提高圖像景深的方法,特別適用于觀察樣品具有較大高度差的復(fù)雜表面。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-30
在掃描電子顯微鏡(SEM)中進行高分辨率的斷層掃描(通常稱為Serial Block-Face Imaging或FIB-SEM斷層掃描)是獲取樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的關(guān)鍵技術(shù)。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-30
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中實現(xiàn)高分辨率的表面刻畫涉及多方面的優(yōu)化,包括樣品準備、顯微鏡設(shè)置和操作技巧。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-29
在掃描電子顯微鏡(SEM)?中,聚焦調(diào)節(jié)對圖像質(zhì)量有顯著影響。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-29
在掃描電子顯微鏡(SEM)中進行準確的斷面分析可以提供樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的信息,尤其適用于材料科學(xué)、電子工程和生物學(xué)等領(lǐng)域。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-28
在掃描電子顯微鏡(SEM)中進行樣品的真空準備是確保高質(zhì)量成像和分析的關(guān)鍵步驟。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-28
低加速電壓成像是掃描電子顯微鏡(SEM)?中的一種重要技術(shù),用于獲得樣品表面的高分辨率圖像,同時減少電子束對樣品的損傷。
MORE INFO → 行業(yè)動態(tài) 2024-08-27