掃描電鏡工作時鏡筒內(nèi)的一般真空度要求

掃描電鏡（SEM）工作時鏡筒內(nèi)的真空度是確保電子束正常傳輸和樣品表面電子散射檢測的重要因素。

掃描電鏡圖像粗糙程度分析

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中分析表面粗糙度是研究材料表面特性的重要方面。表面粗糙度可以影響材料的物理、化學(xué)和機械性質(zhì)，因此準(zhǔn)確分析表面粗糙度在材料科學(xué)、工程和其他領(lǐng)域中非常重要。

掃描電鏡（SEM）的背散射電子（BSE）圖像可以用于成分分析。背散射電子是從樣品中散射回來的高能量電子，其強度與樣品中原子序數(shù)的平均值有關(guān)。

在掃描電鏡（SEM）中，樣品如果沒有進行噴鍍或其他導(dǎo)電處理，可能會出現(xiàn)以下問題：

提高掃描電子顯微鏡（SEM）圖像質(zhì)量可以通過多種方法和優(yōu)化操作來實現(xiàn)。

掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數(shù)，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質(zhì)量。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，調(diào)節(jié)焦距是獲取清晰圖像的關(guān)鍵步驟。焦距調(diào)節(jié)主要是通過控制工作距離（Working Distance, WD）和物鏡焦距（Objective Focus）來實現(xiàn)的。

掃描電子顯微鏡（SEM）結(jié)合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術(shù)，能夠提供多種成分分析功能。